硅基GaN电子器件研究进展孙钱中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

从应用端看GaN功率电子器件面临的关键可靠性难题及器件性能提升方案周峰，徐尉宗，任芳芳，陈敦军，张荣，郑有炓，陆海*南京大学