南京大学周峰： 从应用端看GaN功率电子器件面临的关键可靠性难题及器件性能提升方案

视频MOCVD20222024-11-22 15:31
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从应用端看GaN功率电子器件面临的关键可靠性难题及器件性能提升方案周峰，徐尉宗，任芳芳，陈敦军，张荣，郑有炓，陆海*南京大学
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