中科院半导体所何亚伟：基于深层瞬态光谱学的Al/Ti 4H-SiC肖特基结构缺陷研究

视频SSLCHINA2023-05-22 16:43
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报告简介：基于深层瞬态光谱学的Al/Ti 4H-SiC肖特基结构缺陷研究 Investigation of Defect Levels of Al/Ti 4H-SiC Schottky Structures byDeep Level Transient Spectroscopy何亚伟 中国科学院半导体研究所 HE Yawei Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences
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