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CSPSD 2024成都前瞻|电子科技大学刘人宽：基于多层级多场域的压接型IGBT模块失效演化机制研究
 评论 ⋅  2024-04-22 10:19
凌光红外再获新融资，进一步拓展半导体失效分析等领域应用
 评论 ⋅  2024-04-17 11:40
MOSFET的失效机理：dV/dt失效和雪崩失效
 评论 ⋅  2022-11-15 14:21
苏试宜特检测蔡甦谷处长：芯片先进封装之失效分析与应用
 评论 ⋅  2022-11-07 12:00
直播回放： 关于半导体器件良率提升及失效分析，这里有一份干货分享
 评论 ⋅  2022-05-07 14:40
如何快速有效的提升功率半导体器件良率，并对失效进行关键性分析
 评论 ⋅  2022-05-05 17:18
摩尔定律失效后，芯片从东方崛起？
 评论 ⋅  2021-03-03 10:49
中兴通讯蔡小龙：针对5G基站中射频氮化镓HEMT的失效分析研究
 评论 ⋅  2020-12-11 16:17
荷兰Ampleon Netherlands B.V.陈松：研发转量产，射频功率器件量产阶段零失效目标下的挑战和实践
 评论 ⋅  2020-12-11 16:05
电子科技大学刘成艺：n型4H-SiC上Ti/TiN/Pt欧姆接触电极在空气中高温退火处理的失效机理研究
 评论 ⋅  2020-12-03 17:58
SiC MOSFET应用技术在雪崩条件下的鲁棒性评估
雪崩器件失效测试波形变换器
 评论 ⋅  2020-08-04 03:12
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