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湖南三安半导体申请功率器件
专利
,可提高钝化层在外围区域的附着力
昕感科技申请一种终端复合结构及高压 SIC 器件
专利
,提升终端效率并提高工艺容错率
广东巨风半导体取得IGBT模块
专利
,提高模块性能
广州南砂晶圆半导体技术取得交流电阻加热器及SiC单晶生长装置
专利
,提高晶体生长速度且有助于4H‑SiC晶型稳定
北方华创“工艺气体喷嘴及半导体工艺腔室”
专利
公布
联合微电子中心取得一种半导体器件
专利
,提升半导体器件性能
芯导电子“一种静电防护结构及制备方法、半导体器件及制备方法”
专利
公布
联华电子申请半导体结构以及其形成方法
专利
,具有特定的结构和元件排列
华虹半导体“低压超结MOSFET的工艺方法”
专利
公布
南京南瑞半导体申请沟槽型SiC器件及其制备方法
专利
,可防止器件过早击穿烧毁
安徽长飞先进半导体申请半导体器件相关
专利
,使半导体器件获得更好的散热结构以及更低的电阻率
飞锃半导体申请半导体结构及其形成方法
专利
,提高器件性能和可靠性
中微半导体设备申请双腔处理系统及气体供应方法
专利
上海汉虹申请一种单晶炉碳化硅炉专用KF40电动蝶阀
专利
长光华芯“半导体材料生长速率的测试方法”
专利
获授权
士兰微“MEMS器件及其制造方法”
专利
获授权
重庆芯联微电子申请掩膜版图形及其优化方法
专利
,解决集成电路版图工艺缺陷
粤芯半导体申请光刻机对准方法
专利
,平衡晶圆中切割道与芯片的研磨速率
长鑫存储申请半导体结构及制备方法
专利
,提高集成电路的存储密度
深圳市联微半导体取得定位装置
专利
,能够具有较低的成本
北方华创“工艺配方的管理控制方法、装置及半导体设备”
专利
公布
智芯微“用于电源监测的嵌入式系统、解码方法和解码芯片”
专利
公布
扬杰电子申请新型多级沟道SiC MOSFET元胞结构与制造方法
专利
,方法制作工艺简单
合肥晶合集成电路申请一种半导体器件的制作方法
专利
,能够提高半导体器件的性能
无锡博通申请半桥GaN增强型开关器件及其制备方法
专利
,保证器件的高速开关
山东粤海金半导体取得专用碳化硅衬底Wafer倒角装置
专利
,可实现自由设计倒角形状
汉斯半导体取得一种 IGBT 模块封装外壳抛光装置
专利
,抛光效率高
荣耀“封装芯片结构及其加工方法、和电子设备”
专利
获授权
苏州敏芯微电子申请力传感器的封装结构及其制造方法
专利
,解决现有力传感器力传递灵敏度低的问题
苏州高视半导体申请基于晶圆检测系统的晶圆检测方法
专利
,降低晶圆缺陷的检测成本
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