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投资949亿韩元 Chemtronics将开始建设第8代OLED蚀刻工厂
CASA立项GaN
HEMT
非钳位感性负载开关鲁棒性测试方法1项团体标准
标准 | 2项GaN
HEMT
动态导通电阻测试标准形成委员会草案
新微半导体“一种
HEMT
器件的栅极、
HEMT
器件及其制备方法”专利获授权
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
CSPSD 2024成都前瞻 |香港科技大学孙佳慧:肖特基型p-GaN栅GaN
HEMT
的栅极抗静电鲁棒性
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
扬杰科技申请高封装功率密度的GaN
HEMT
器件及其制备方法专利
北京大学申请高动态稳定性GaN器件专利,提高GaN
HEMT
的动态稳定性
性能位居前列! 芯生代科技发布面向
HEMT
功率器件的 850V大功率氮化镓外延产品
CASICON西安前瞻| 中国科学院半导体研究所副研究员张连:GaN功率型HBT与毫米波
HEMT
研究进展
CASA发布《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告
东南大学牵头起草的《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告已形成委员会草案
标准 | CASA立项《射频GaN
HEMT
结构的迁移率非接触霍尔测量方法》等5项团体标准
东南大学牵头起草的《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告已形成委员会草案
东南大学牵头起草《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告征求意见
芯导科技:第三代半导体650VGaN
HEMT
产品预计今年可实现量产
标准 | 电子五所牵头的T/CASAS 005《用于硬开关电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》形成委员会草案
ROHM确立栅极耐压高达8V的150V GaN
HEMT
的量产体制
河北半导体研究所高楠:国产4英寸GaN衬底上MOCVD外延高质量AlGaN/GaN
HEMT
材料
中科院半导体研究所张连:亚毫米波段GaN基
HEMT
与选区外延技术研究
韩国Wavice Inc首席技术官Sangmin LEE:i-line步进器实现的具有各种栅极尺寸的GaN
HEMT
器件的性能和可靠性
中国科技大学Alsaman A. amgad:
HEMT
器件通道内2DEG电荷的空间非均匀性
西交利物浦大学王惟生:使用E/D模式AlGaN/GaN的单片比较器用于高温应用的MIS-
HEMT
电子科技大学李曦:GaN
HEMT
功率器件的热瞬态测试方法与机理研究
IFWS 2021前瞻:中科院半导体研究所副所长张韵将出席射频电子器件与应用论坛
中科院
半导体研究所
副所长
张韵
亚毫米波段
GaN基
HEMT
【CASICON 2021】南京大学徐尉宗:面向高可靠性、高能效应用的GaN
HEMT
增强型器件技术
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