合作邀请 |HORIBA中国邀您同聚11月IFWS & SSLCHINA2024

日期:2024-11-01 阅读:259
核心提示:11月18-21日,IFWS2024&SSLCHINA2024、先进半导体技术应用创新展将在苏州国际博览中心举办。HORIBA中国将携多款产品亮相此次展会。值此,诚挚邀请产业同仁共聚论坛,莅临 A28号展位参观交流、洽谈合作。

头图 

2024年11月18-21日,第十届国际第三代半导体论坛(IFWS2024)&第二十一届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA2024)、先进半导体技术应用创新展(CASTAS)将在苏州国际博览中心G馆举办。

HORIBA中国将携多款产品亮相此次展会。值此,诚挚邀请第三代半导体产业同仁共聚论坛,莅临 A28号展位参观交流、洽谈合作。 

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关于 HORIBA

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HORIBA成立至今已有70多年,是一家历史悠久的跨国集团公司。总部位于日本,现已在全球29个国家设立50家分公司,构建了覆盖全球的开发、生产、销售与服务网络。在能源、环境、生物、医疗、先进材料与半导体等多个领域,HORIBA为全球政府、高校及工业企业提供高精密的计量仪器和先进的检测分析工具。业务范围涵盖发动机排放检测、科学分析、环境监测、半导体工艺过程控制、体外医疗诊断、生物技术及新能源发展与利用等。多年来,HORIBA顺应市场的不断变化,坚持创新,为全球客户提供具有高适配度、高附加值且性能卓越的产品与服务,是科研、企业研发、生产制造及质量控制的优选伙伴。

产品介绍 

半导体材料表征解决方案

1.结构表征

· 微区应力分析

· 材料晶型鉴别、掺杂缺陷

· 量子阱深度剖析

· 载流子浓度,器件结温分析

· 微晶硅晶化率分析

· Si/SiC /GaN/GaAs/InP

仪器:LabRAM Odyssey 高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪

1.LabRAM Odyssey 高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪 

2.薄膜厚度

· 材料薄膜厚度测量

· SiO2、SiNx等从几埃到几十μm厚度

· 折射率、消光系数分析

仪器:UVISEL PLUS 研究级经典型椭偏仪

2.UVISEL PLUS 研究级经典型椭偏仪 

3.光致发光PL

· 晶圆表面缺陷、污染物检测

· 载流子浓度和带隙分析

· 外延层生长均匀性和杂质检测

仪器: FluoroMax+/(P/TCSPC)高灵敏一体式荧光光谱仪

               iHR320/iHR550成像光谱仪

               Fluorolog-QMTM科研级荧光光谱仪

 TCSPC)高灵敏一体式荧光光谱仪 

 参会联系

 今年,第十届国际第三代半导体论坛&第二十一届中国国际半导体照明论坛(IFWS&SSLCHINA2024)将于11月18-21日在苏州国际博览中心举办,国内外院士专家齐聚,数十场会议活动,数百位报告嘉宾,全产业链知名企业参与&参展,内容全面覆盖行业工艺装备、原材料、技术、产品与应用各环节,融合聚集产、学、研、用、政、金多个层面的资源,年度国际第三代半导体产业“风向标”盛会,11月相聚苏州,共襄盛会,共谋发展!欢迎业界同仁咨询参展参会,免费观展交流合作!》》》最新60+报告嘉宾公布!IFWS&SSLCHINA2024报名中!

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贾在前

 

 


                  

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