武汉新芯取得清洗装置及半导体制造设备专利,去除晶圆边缘残留物避免影响后续工艺

日期:2024-10-17 阅读:206
核心提示:国家知识产权局信息显示,武汉新芯集成电路股份有限公司取得一项名为清洗装置及半导体制造设备的专利,授权公告号 CN 221832892

 国家知识产权局信息显示,武汉新芯集成电路股份有限公司取得一项名为“清洗装置及半导体制造设备”的专利,授权公告号 CN 221832892 U,申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示,本实用新型提供了一种清洗装置及半导体制造设备,所述清洗装置用于清洗晶圆,所述清洗装置包括:可旋转的支撑结构,设置于所述晶圆下方,所述支撑结构的外周具有第一环形槽,所述晶圆的边缘放置于所述第一环形槽中;可旋转的转动结构,设置于所述晶圆外周,所述转动结构的外周具有第二环形槽,所述晶圆的边缘放置于所述第二环形槽中,所述转动结构和/或所述支撑结构能够带动所述晶圆旋转;所述第一环形槽和/或所述第二环形槽的内壁设置有第一喷口,通过所述第一喷口能够向所述晶圆边缘喷出第一清洗液。本实用新型的技术方案使得能够去除晶圆边缘的残留物,避免影响后续工艺。

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