中芯集成-U 申请 MEMS 器件及其制备方法专利,避免大量自由电荷堆积在振膜中

日期:2024-07-12 阅读:250
核心提示:天眼查知识产权信息显示,芯联集成电路制造股份有限公司申请一项名为MEMS 器件及其制备方法,公开号 CN202410419013.6,申请日期

天眼查知识产权信息显示,芯联集成电路制造股份有限公司申请一项名为“MEMS 器件及其制备方法“,公开号 CN202410419013.6,申请日期为 2024 年 4 月。

专利摘要显示,本申请实施例涉及一种 MEMS 器件及其制备方法,包括:提供衬底,衬底包括背腔预设区;在衬底上形成第一牺牲层;形成贯穿第一牺牲层的开口,开口暴露出衬底的部分区域,部分区域位于背腔预设区外周;形成连接结构和振膜,连接结构填充于开口内并与衬底直接接触,振膜位于第一牺牲层上并与连接结构直接接触;去除部分衬底,以在背腔预设区形成背腔;以及,去除至少部分第一牺牲层,以形成下空腔,下空腔暴露振膜的朝向衬底的表面,且与背腔连通;其中,衬底的导电类型、连接结构的导电类型、以及振膜的导电类型一致,以使衬底与振膜能够导通。由此,去除牺牲层过程中产生的自由电荷在进入振膜后,可以通过连接结构转移至衬底中,避免大量自由电荷堆积在振膜中,减少电化学反应的发生,减少对振膜的损伤。

来源:金融界

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