2024年4月8-11日，一年一度化合物半导体行业盛会——2024九峰山论坛暨中国国际化合物半导体产业博览会（简称“JFSC＆CSE”）将于武汉光谷科技会展中心举办。上海恩艾仪器有限公司（NI）将携新品亮相本届盛会，诚邀业界同仁莅临2T09展台参观、交流合作。
本届CSE博览会由第三代半导体产业技术创新战略联盟、九峰山实验室共同主办，以“聚势赋能 共赴未来”为主题，将汇集全球顶尖的化合物半导体制造技术专家、行业领袖和创新者，采用“示范展示+前沿论坛+技术与商贸交流”的形式，为产业链的升阶发展搭建供需精准对接平台，助力企业高效、强力拓展目标客户资源，加速驱动中国化合物半导体产业链的完善和升级。
CSE作为2024年首场国际化合物半导体产业博览会得到了多方力量的大力支持，三大主题展区，六大领域，将集中展示各链条关键环节的新技术、新产品、新服务，将打造化合物半导体领域的标杆性展会。助力打造全球化合物半导体平台、技术、产业的灯塔级盛会，集中展示化合物半导体上下游全产业链产品，搭建企业发布年度新产品新技术的首选平台，支撑产业链及中部地区建设具有全球影响力的万亿级光电子信息产业集群。
NI成立于1976年，是一家专注于测试测量领域的科技公司，在上世纪90年代以“虚拟仪器技术”的全新概念开启了测试测量领域“软件定义"的时代，40多年以来，NI不断致力于开发基于软件的测试测量与自动化平台，助力工程师和科学家们解决全球最严峻的难题，获得数以百倍的效率提升；进入移动互联时代，NI从贯穿技术与产品生命周期的测试测量数据入手，结合强大的软件能力，构建更完整的企业级数据链，成为不同行业、不同应用的技术联结者和创新驱动者。
深耕中国24年，NI开放的软件平台和丰富的硬件资源在中国也形成了完整的科技生态，广泛应用于下一代通信、半导体、商业航空航天、交通、能源、医疗、消费电子、工业电子等领域，推动中国科技创新、数字化转型及能源可持续发展。
产品介绍
WBG半导体可靠性测试H3TRB专区
对于H3TRB动态测试，SET提供的系统可将行业的扩展要求转化为自动动态测试。系统特别注重灵活性，以便能够快速满足不断变化的要求。
测试类型
动态 H3TRB/ DRB 测试系统
测量技术
·每个系统80-240个被测设备（80个被测设备1个高压电源）
·0V至1500V；4A，用于80DUT
·单个DUT泄漏电流测量（静态H3TRB期间）。80个测量通道
·通过关闭开关提供单个DUT过流保护。基于硬件的单个DUT快速关断，应力阶段为65mA±20%，读出阶段为650μA±20
·单DUT电压控制。主动电压控制可将负载电压补偿至<±0.5V
动态测试输出级
·最大输出电压高达1500V
·输出频率可在0Hz至500kHz之间配置（最大频率取决于电压和DUT电容）
·占空比在25%至75%之间可变，每5%为一档
软件和测试程序
·全自动测试程序
·测量数据保存在tdms文件中
·基于NI LabVIEW和TestStand的软件
安全
·用软件连接和评估试验箱的外部安全锁
·高压插头连接的安全电压监控
·高压供电设备的安全释放
值此之际，我们诚邀业界同仁共聚本届盛会，莅临展位现场参观交流、洽谈合作。
关于JFSC&CSE 2024
