2024年4月8-11日，一年一度化合物半导体行业盛会——2024九峰山论坛暨中国国际化合物半导体产业博览会（简称“JFSC＆CSE”）将于武汉光谷科技会展中心举办。中导光电设备股份有限公司将携新品亮相本届盛会，诚邀业界同仁莅临A312展台参观、交流合作。
本届CSE博览会由第三代半导体产业技术创新战略联盟、九峰山实验室共同主办，以“聚势赋能 共赴未来”为主题，将汇集全球顶尖的化合物半导体制造技术专家、行业领袖和创新者，采用“示范展示+前沿论坛+技术与商贸交流”的形式，为产业链的升阶发展搭建供需精准对接平台，助力企业高效、强力拓展目标客户资源，加速驱动中国化合物半导体产业链的完善和升级。
CSE作为2024年首场国际化合物半导体产业博览会得到了多方力量的大力支持，三大主题展区，六大领域，将集中展示各链条关键环节的新技术、新产品、新服务，将打造化合物半导体领域的标杆性展会。助力打造全球化合物半导体平台、技术、产业的灯塔级盛会，集中展示化合物半导体上下游全产业链产品，搭建企业发布年度新产品新技术的首选平台，支撑产业链及中部地区建设具有全球影响力的万亿级光电子信息产业集群。
中导光电设备股份有限公司创立于2006年，是一家由海归资深专家团队创立的半导体和平板显示工业高端光学检测领域的中国解决方案提供商。公司主营业务以平板显示（FPD）产业高端自动光学检测设备（AOI）为主导，以集成电路（IC）工业制程高端检测设备为前沿。在FPD领域，公司的AOI产品形成了完整的产品家族，检测灵敏度达到亚微米级，技术达到国际先进、国内领先水平；在IC领域，检测设备产品覆盖制造过程的检测和量测两个主要应用领域，并成功进入客户产线应用。公司核心技术源于自主知识产权，累计获得国内外各类知识产权逾百件。公司承担了国家、省和市级多项重大科研项目，致力于为半导体和平板显示工业客户提供快速高质的定制化设备和技术解决方案。
产品介绍
晶圆自动光学检测系统 NanoPro-1XX系列
NanoPro-100系列产品是中导光电首台推向市场的纳米图形晶圆缺陷检测设备，适用于0.13-0.18um工艺产线的IC有图形和无图形晶圆缺陷检测。
晶圆自动光学检测系统 NanoPro-2XX系列
NanoPro-200系列产品是中导光电推向市场的第二代纳米图形晶圆缺陷检测设备，其适用于65nm-0.11um工艺产线的IC有图形和无图形晶圆缺陷检测。
晶圆自动光学检测系统 MDI
MDI产品是中导光电推向市场的亚微米级晶圆缺陷检测设备，适用于0.5-1um工艺产线的IC有图形和无图形晶圆缺陷检测。
值此之际，我们诚邀业界同仁共聚本届盛会，莅临展位现场参观交流、洽谈合作。
关于JFSC&CSE 2024
