SSLCHINA2020:可靠性与热管理技术分会深圳召开

日期:2020-11-26 来源:第三代半导体产业网阅读:421
核心提示:江苏博睿光电有限公司协办的“可靠性与热管理技术分会”,如期举行。分会期间,德国英戈尔施塔特应用技术大学教授Gordon ELGER,北京工业大学教授、光电子技术教育部重点实验室副主任郭伟玲,江苏博睿光电有限公司副总经理梁超,佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心&港科技术(佛山)有限公司技术总监赵惠珊,天津工业大学电气工程与自动化学院副教授于莉媛,中山大学电力电子及控制技术研究所所长,教授刘扬,复旦大学青年研究员樊嘉杰,电子科技大学刘成艺,桂林电子科技大学王浩洁等来自国内外高校、科研院所、企
11月23-25日,由国家半导体照明工程研发及产业联盟(CSA)与第三代半导体产业技术创新战略联盟(CASA)主办,南方科技大学微电子学院与北京麦肯桥新材料生产力促进中心有限公司共同承办的第十七届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA 2020)暨2020国际第三代半导体论坛(IFWS 2020)在深圳会展中心召开。
 可靠性分会
11月24日上午,江苏博睿光电有限公司协办的“可靠性与热管理技术分会”,如期举行。分会期间,德国英戈尔施塔特应用技术大学教授Gordon ELGER,北京工业大学教授、光电子技术教育部重点实验室副主任郭伟玲,江苏博睿光电有限公司副总经理梁超,佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心&港科技术(佛山)有限公司技术总监赵惠珊,天津工业大学电气工程与自动化学院副教授于莉媛,中山大学电力电子及控制技术研究所所长,教授刘扬,复旦大学青年研究员樊嘉杰,电子科技大学刘成艺,桂林电子科技大学王浩洁等来自国内外高校、科研院所、企业的精英代表将带来精彩报告,分享前沿研究成果。天津工业大学电气工程与自动化学院院长、教授赵丽霞和华中科技大学能源与动力工程学院院长,中欧清洁与可再生能源学院中方院长罗小兵共同主持了本届分会。
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德国英戈尔施塔特应用技术大学教授Gordon ELGER带来了光电子和电力电子设备的互连可靠性的非破坏性测试的主题报告,分享了最新研究成果。
 郭伟玲
北京工业大学教授、光电子技术教育部重点实验室副主任郭伟玲分享了新型电极结构LED的特性和可靠性研究的最新成果,其中,报告指出CBL发光二极管具有光通量大、效率高、光效高、可靠性高、热性能好等优点。新型电极LED具有输出光功率高、发光效率高、热性能好等优点。
 梁超3
江苏博睿光电有限公司副总经理梁超带来了“Y2O3-CaF2对LED用AlN封装基板性能的影响”的主题报告,Y2O3和CaF2的结合有利于降低氮化铝的烧结温度。Y2O3是一种将OxYgen放入l n表面的方法。CaF2能有效地降低晶格中的溶胶氧,当Y2O3含量为1.8wt%,CaF2含量为1.2wt%时,三元晶界的相对含量为192W/(m.K)。
 赵惠珊
佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心&港科技术(佛山)有限公司技术总监赵惠珊带来了“PWM脉冲驱动模式下UVLED动态结温的无量纲化拟合研究”的主题报告,报告显示,通过与精度的无量纲关联,得到了p和D的归一化结温升和峰值热阻(ΔTj,p/dc,Rth,p/dc),平均值(ΔTj,m/p,Rth,m/p)和波动(ΔTj,f/p,Rth,f/p)的PWM模式响应。适用于结温升和波动较低的PDM的相关性优于PWM。
于莉媛
天津工业大学电气工程与自动化学院副教授于莉媛带来了“GaN基器件电子辐照诱生缺陷表征和性能分析”的报告,分享了最新的研究成果。其中,GaN/InGaN多量子阱(MQW)是GaN基器件中最重要的结构之一。报告研究了电子束辐照对GaN/InGaN多量子阱结构光学性质的影响。实验中观察到电子束辐照会引起发射带的蓝移或新的发射带的蓝移。高能粒子在材料中会产生位移效应,产生大量的点缺陷和团簇。
 刘扬2
中山大学电力电子及控制技术研究所所长,教授刘扬三族氮化物功率半导体发展动态及其可靠性的相关思考。
 樊嘉杰
复旦大学青年研究员樊嘉杰带来了“可靠性设计的发展和挑战—以半导体照明为例”的主题报告,报告显示,可靠性设计不仅仅是好的,而且是必胜的。过去和现在的可靠性解决方案正受到越来越复杂的工艺、产品和应用条件的挑战。可靠性设计的最终目的是实现受控可靠性,或按需可靠性。人工智能、机器学习和数字孪生技术支持实现高精度、高可靠性、高效率的设计。
 刘成艺
电子科技大学刘成艺带来了n型4H-SiC上Ti/TiN/Pt欧姆接触电极在空气中高温退火处理的失效机理研究的报告,分享了电气性能、失效机理的最新成果。
 王浩洁
桂林电子科技大学王浩洁带来了“多场载荷下功率器件IGBT寿命预测分析”,研究功率器件IGBT在热振动耦合下的疲劳寿命环境。对于在热载荷和振动载荷共同作用下的失效疲劳研究。与电力设备应用场景的多样化随着其使用环境的恶化,研究热、振动耦合载荷对器件的影响具有较高的参考价值。
(内容根据现场资料整理,如有出入敬请谅解)
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