德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL带来了题为“加速测试条件下高品质低成本的LED电源寿命对比性研究”的主题报告，介绍了一项关于高端LED驱动和低成本LED驱动的对比研究。 研究采用了多种加速测试的方法确定器件的寿命，其中包括温度、湿度、偏差测试（THB）等。一些测试中重要的参数都会被记录下来。同时失效分析和失效模式都会跟实验记录做对比。比较常见的失效原因是电腐蚀，其一般常出现在低成本器件中，因为通常这些设备都缺乏有效的电路板组装清理工艺。同时研究也发现了金属薄膜电容对于高温高湿都非常敏感，这些器件通常都是由于采用了塑料封装。 实验结果表明尽管以上两种LED驱动在设计、产品质量和失效模式都不相同，但是在THB测试环节，其两种LED的驱动失效的寿命时间并没有很大的区别。