韩国岭南大学教授Ja-soon JANG 介绍了GaN基发光二极管器件可靠性特性分析方法技术报告。他表示，发光二极管（LED）技术已经迅速发展以满足LED应用领域的各种需求，如汽车照明，手术照明和IT可控智能照明。 随着LED的重要性越来越大，可靠性问题越来越重要。 他分享了最近的可靠性问题，并考虑到可以解决可靠性问题的可行方法。为此，我们从遗传个体和外部诱导的退化因素、复杂因素和触发因子等方面进行研究，新提出了影响LED可靠性行为的边界条件（芯片和封装之间）以及影响因素，以确保LED的哪些部分易受器件可靠性特性的影响。