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武汉新芯取得清洗装置及半导体制造设备专利,去除晶圆边缘残留物避免影响后续工艺
日期:2024-10-17  263

 国家知识产权局信息显示,武汉新芯集成电路股份有限公司取得一项名为“清洗装置及半导体制造设备”的专利,授权公告号 CN 221832892 U,申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示,本实用新型提供了一种清洗装置及半导体制造设备,所述清洗装置用于清洗晶圆,所述清洗装置包括:可旋转的支撑结构,设置于所述晶圆下方,所述支撑结构的外周具有第一环形槽,所述晶圆的边缘放置于所述第一环形槽中;可旋转的转动结构,设置于所述晶圆外周,所述转动结构的外周具有第二环形槽,所述晶圆的边缘放置于所述第二环形槽中,所述转动结构和/或所述支撑结构能够带动所述晶圆旋转;所述第一环形槽和/或所述第二环形槽的内壁设置有第一喷口,通过所述第一喷口能够向所述晶圆边缘喷出第一清洗液。本实用新型的技术方案使得能够去除晶圆边缘的残留物,避免影响后续工艺。

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